2019年第67届美国质谱年会（ASMS）将于6月2-6日在美国佐治亚州首府亚特兰大市乔治亚世界会议中心举行。近日，组委会陆续公布了ASMS各大奖项的获奖名单，John R. Yates III博士获得质谱杰出贡献奖，同时Jeff Shabanowitz博士成为Al Yergey质谱科学家奖的首位获得者。Scripps研究所分子医学教授John R. Yates III博士荣获2019年ASMS John B. Fenn质谱杰出贡献奖，该奖项的设立旨在纪念获得2002年诺贝尔电喷雾电离发展奖的John B.Fenn博士。